Firma Instrument Systems

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Neuer Geschäftsführer bei Instrument Systems

Dr. Yuta Yamanoi übernimmt zum 2. April 2024 die Position des Geschäftsführers von Yasumasa Kuboyama und bildet mit CEO Dr. Markus Ehbrecht das neue Geschäftsführungsteam von Instrument Systems. In seiner neuen Rolle wird er die Kooperation zwischen den Konica Minolta-Töchtern der Sensing Business Unit mit ihrem Geschäftsbereich Color & Appearance […]

Richtlinienkonforme SSL- und LED-Vermessung

Vom 3. – 8. März 2024 informiert Instrument Systems auf der Light + Building Messe in Frankfurt a. M. über innovative Messlösungen rund um das Thema Solid-State-Lighting und LED-Module. Im Fokus stehen dabei die Themen Energie-Effizienz, Unified Glare Ratio, CIE S 025 sowie IES LM-79-08. Der Münchner Hersteller präsentiert sein […]

Lichtmesstechnik für eine perfekte AR/VR-Welt

Instrument Systems zeigt auf der Photonics West 2024 und der SPIE.AR|VR|MR 2024 sein Portfolio zur optischen Qualitätssicherung von AR/VR-Devices entlang der gesamten Produktionskette. An Stand 6101 der SPIE.AR|VR|MR 2024 in San Francisco launcht Instrument Systems seine neue LumiTop 5300 AR/VR. Die 2D Leuchtdichte- und Farbmesskamera verfügt über eine sehr hohe […]

Display-Messungen bei hoher und niedriger Leuchtdichte

Instrument Systems hat speziell für Display-Produktionstests unter besonderen Leuchtdichtebedingungen die neuen Farbmesskameras LumiTop X20 und LumiTop X30 entwickelt. Die LumiTop X20 und X30 zeichnen sich durch eine hohe Kameraauflösung (20 MP bzw. 31 MP) sowie einen verbesserten Messbereich von mcd/m² bis Mcd/m² aus. Beide Kameras basieren auf dem spektral optimierten […]

Geschäftsführerwechsel bei Instrument Systems Korea

Jaeho Choi übernimmt zum 1. Oktober 2023 die Position des Geschäftsführers bei Instrument Systems Korea. Mit seiner langjährigen Berufserfahrung in den Bereichen Display, Optik und Sensing wird er das Unternehmen in den nächsten Jahren für ein sehr dynamisches Geschäftsumfeld strategisch stärken und weiter ausbauen. Das Tochterunternehmen von Instrument Systems vertreibt […]

Optische Charakterisierung von IR-Emittern

Instrument Systems präsentiert auf der LASER WoP 2023 sein umfangreiches Testportfolio für IR-Emitter und VCSEL. Neue Produktentwicklungen im Bereich der Spektralradiometer der CAS-Serie und der VTC-Kameras bedienen den immens gewachsenen Markt der VCSEL-Produktion für den kurzwelligen Infrarot-Bereich von 780 bis 1700 nm. Das neue CAS 140D IR besitzt gegenüber seinem […]

Goniometrische Charakterisierung von Curved Displays

Auf der diesjährigen Display Week, die vom 21.-26. Mai 2023 im Los Angeles Convention Center stattfindet, launcht Instrument Systems sein neuestes Goniometer der DMS-Serie. Das DMS 904 ist auf die optische Charakterisierung von großen und auch Curved Displays zugeschnitten. Basierend auf dem bewährten DMS-Bewegungskonzept besitzt es sieben motorisierte Achsen zur […]

Umfirmierung von Kimsoptec in Instrument Systems Korea

Nach dem Erwerb der Kimsoptec Co. Ltd. durch Instrument Systems im August 2022 und der erfolgreichen Integration in den Konzern firmiert der koreanische Hersteller von Displaymesssystemen zum 1. April 2023 in Instrument Systems Korea Co. Ltd. um. CEO ist Dr. Markus Ehbrecht, der seit 2014 CEO von Instrument Systems ist. […]

ISO 17025 konforme Prüfungen vor Ort beim Kunden

Instrument Systems bietet seit Januar 2023 optional seine ISO 17025 konformen Prüfungen der Beleuchtungsstärke auch am Installationsort seiner großen Lichtmessanlagen der AMS und LGS Goniophotometer an. Bisher galt die Akkreditierung für die Vor-Ort-Prüfung nur für die DMS Display-Messsysteme von Instrument Systems. Die Möglichkeit, Geräte zur Erlangung eines ISO 17025 konformen […]

VCSEL-Analysekamera von Instrument Systems gewinnt Photonik-Award

Instrument Systems präsentierte seine neue Infrarotkamera VTC 4000 Anfang 2022 auf der Photonics West. Eine Jury aus Experten der Photonik-Industrie zeichnete diese Kamera nun mit dem „Laser Focus World Innovators Award 2022“ in Silber aus. Die VCSEL-Analysekamera VTC 4000 ist speziell für die ultraschnelle und präzise 2D-Nahfeldanalyse von schmalbandigen Emittern, […]